2024年1月19日,南極熊獲悉,來自加拿大麥吉爾大學(xué)采礦與材料工程系的研究人員通過改變傳統(tǒng)激光粉末床熔融技術(shù)加工零件的氬氣 (Ar) 保護氣氛圍,在氮氣 (N2) 氣氛下使用相同的工藝參數(shù)制造加工出了無裂紋鎢零件。
相關(guān)研究以題為“Crack-Free Tungsten Fabricated viaLaser Powder Bed Fusion Additive Manufacturing”的論文被發(fā)表在《AdvancedFunctional Materials》期刊上。
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由于鎢 (W)具有高熔點、高導(dǎo)熱性、氧化傾向以及晶界 (GB) 氧化物脆性等特點,鎢的增材制造一直都具有很大的挑戰(zhàn)性。W容易受到晶界 (GB) 開裂的影響,該開裂源于 bcc 晶體結(jié)構(gòu)已知的延性至脆性轉(zhuǎn)變溫度 (DBTT),在這種情況下,范圍在 473 至 673 K(200 至 400 °C)。DBTT取決于雜質(zhì)水平、晶粒尺寸和應(yīng)變狀態(tài)。晶界處的雜質(zhì)偏析仍然是決定DBTT的主要因素。
在這項研究中,研究人員比較了使用氬氣 (Ar) 和氮氣 (N2) 構(gòu)建氣氛,以研究LPBF 期間熔體界面處的 N元素是否可以置換掉熔液中的O元素,作為防止 W 開裂的潛在途徑。利用光學(xué)和掃描電子顯微鏡 (SEM)、硬度和機械測試研究了N元素對晶粒結(jié)構(gòu)和硬度的影響。使用斷裂表面分析和能量色散光譜研究晶界氧化物偏析。
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△圖 1.a) 本研究中制作的樣品照片,b) 樣品尺寸,顯示微觀結(jié)構(gòu)表征的剖面。
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△圖 2. 原始鎢粉末的 SEM 顯微照片。
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△圖 3. 使用 a) 光學(xué)顯微照片、b)EBSD 顯微照片、c) 帶圖例的核平均取向誤差圖、d)KAM 圖直方圖和 e) 極圖表征 W-Ar 樣品
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△圖 4. 使用 a) 光學(xué)顯微照片、b)EBSD 顯微照片、c) 帶圖例的核平均取向誤差圖、d)KAM 圖直方圖和 e) 極圖表征 W-N 樣品。
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△圖5. a) W-Ar 和 b) W-N 的密度和平均裂紋長度與體積能量密度的關(guān)系。
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△圖 6.a) W-Ar 和 b) W-N 的 SAM 顯微照片。
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△圖 7. a) 計算的準(zhǔn)平衡線(紅色)疊加在平衡 W-N 相圖上,b) 氮攝入機制示意圖。
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△圖 8.a) XRD 分析圖,b) XRD LPA 和模擬的晶格參數(shù),c) 顯示晶粒和晶界的 HRSEM 圖,d)顯示 W 中存在 N 和 O 的 EDS 譜。
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△圖 9.a-c) 代表性 EBSD 顯微照片和硬度圖,表明晶粒取向?qū)︽u顯微硬度的影響。
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△圖 10. W-Ar 樣品 a) 低和b) 高的 SEM 斷口圖,顯示氧化物顆粒。
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△圖 11. W-N 樣品 a) 低和 b)高兩種放大倍數(shù)的 SEM 斷口圖,顯示氧化物顆粒。
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△圖 12.bcc-W 中的 a,c) O 和 bcc-W 中的 b,d) O 的擴散勢壘和電荷密度圖(帶 N 間隙)。
研究結(jié)果表明在Ar中生產(chǎn)的零件存在裂紋,裂紋處有氧化物沉淀物。另一方面,無裂紋的 W 樣品是在 N2 氣氛下生產(chǎn)的,無需任何額外的工藝修改,表明等離子體條件下氮活性增強導(dǎo)致LBPF部分氮含量增加,表明LPBF期間原位氮摻雜是可行的。在這兩種情況下,LPBF 樣品中的氧 (O) 含量與起始粉末相似。
有趣的是,對在氮氣中制造的樣品的分析表明,氮被保留在平衡固溶度極限之外,而斷裂表面的高分辨率電子顯微照片顯示晶界處的氧化物水平降低。觀察到在 N2 氣氛下處理的樣品硬度增加。為研究間隙氮對 W 中氧擴散的影響而進行的密度泛函理論 (DFT) 計算表明,溶解 N 的存在會阻礙 O 擴散。
通過將N引入W部分來減少O的擴散。這會導(dǎo)致晶界處的氧化物水平降低,從而導(dǎo)致更大的晶界內(nèi)聚力。在 W 的典型 LPBF 加工中不可避免的裂紋被消除,且不會顯著影響 LPBF 部件的純度。利用 N2氣氛在 LPBF 中進行原位晶界工程,成功地證明了通過LPBF 制造的 W 晶界裂紋的抑制。
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