3D打�。ń饘伲┤绾螒�用蔡司顯微技術？質(zhì)量控制與失效分析

南極熊導讀：工業(yè)級3D打印行業(yè)應用，特別是金屬3D打印，通常需要使用光學顯微鏡甚至是更高端的電子顯微鏡來觀察評估打印零件的表面質(zhì)量。作為全球顯微技術的領導者，蔡司將聯(lián)合南極熊，舉辦一場干貨滿滿的在線研討會直播。

研討會主題：蔡司顯微技術在增材制造領域的質(zhì)量解決方案
時間：2020年06月23日 下午14:00-15:00
適合參加的觀眾對象：金屬3D打印上下游企業(yè)，包括金屬3D打印原材料企業(yè)、醫(yī)療器械行業(yè)、汽車、機械制造、航空航天等等
講師：閆永輝 先生 ，蔡司工業(yè)顯微鏡產(chǎn)品經(jīng)理

研討會大綱：全球范圍，最新的顯微技術有哪些，以及其在增材制造領域的應用案例，從而為您在3D打印生產(chǎn)中所遇到的質(zhì)量問題提供解決思路。

研討會亮點：
①全面了解蔡司光學、電子、X射線顯微技術；
②不同的顯微技術在增材制造領域質(zhì)量控制與失效分析的應用。

報名直播，并下載案例應用白皮書·顯微技術在增材制造領域質(zhì)量控制與失效分析的應用https://www.wenjuan.com/s/emeUvm0/

△掃碼報名參加研討會直播，和下載蔡司顯微技術如何在3D打印（金屬）領域應用的案例


相關顯微鏡產(chǎn)品介紹（適合金屬3D打印等）

蔡司 Axioscope

材料實驗室用于日常工作和研究的金相顯微鏡
Axioscope 正置式光學顯微鏡專為材料實驗室最常見的光學成像要求而設計。具備帶編碼和自動化功能，特別適合于對數(shù)據(jù)質(zhì)量和可重復性要求較高的檢測工作。但 Axioscope的功能并不只有這些。它還善于進行材料科學研究中的高級光學顯微分析。
Axioscope 可以對晶粒尺寸、物相含量以及膜層厚度進行測量，還可對石墨顆粒進行評級，為科研與工業(yè)中的金相學和材料科學提供了一套完整的解決方案。具有多種成熟的觀察模式可以分析您的樣品。先進的照明管理可以確保您的樣品始終處于優(yōu)化的照明狀態(tài)。
Axioscope 功能多樣，處理日常工作得心應手，是實驗室檢測設備的理想之選。


蔡司 Smartproof 5

轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡——用于質(zhì)量控制和研究領域的常規(guī)及自動表面分析
ZEISS Smartproof 5 是一款集成式轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡，它將用于粗糙度和表面形貌測量的快速共聚焦技術與光學顯微鏡的成像和記錄功能巧妙結合。
專用光學元件能夠高速、準確地采集 3D 數(shù)據(jù)，無需對結果進行預處理，即可向您提供值得信賴的原始數(shù)據(jù)。電動化系統(tǒng)、LED 照明系統(tǒng)及光學元件的集成實現(xiàn)了全自動化操作，從而在任何環(huán)境中皆可獲得經(jīng)認證且不依賴于用戶的可靠結果。


蔡司Sigma系列

擁有高品質(zhì)成像和卓越分析功能的場發(fā)射掃描電鏡
蔡司Sigma系列產(chǎn)品將場發(fā)射掃描電鏡技術與良好的用戶體驗完美的結合在一起。可以搭載多種探測器，以應對不同應用需求：顆粒物、表面結構、納米結構、薄膜樣品、涂層及膜層等樣品成像。出色的性價比、領先的EDS幾何設計，擁有卓越的分析性能，無論哪種樣品，均可獲得精準可重復的分析結果。

Sigma 系列產(chǎn)品是基于Gemini 技術研發(fā)的，此項技術已運用超20年之久，具有完整高效的探測系統(tǒng)，超高的分辨率和從未被超越的易用性。
Gemini 物鏡的設計結合了靜電場與磁場的作用，使其電子光學性能最優(yōu)化的同時，將電磁場對樣品的影響降至更低。因此，即使是要求苛刻的樣品——如磁性材料，也能輕松應對。Gemini設計原理確保了二次電子/背散射電子的高效探測。
Inlens探測器安裝在電子束的正光軸上，減少了重新調(diào)校的操作，極大地縮短了成像時間。
Gemini電子束推進器技術可以再超低加速電壓下，確保小束斑尺寸和高信噪比。同時，由于電子束再通過整個鏡筒直至被減速前，都維持在高電壓狀態(tài)，這樣可以使得外界雜散磁場對整個系統(tǒng)的影響降至最低。


蔡司 Xradia Versa，超越傳統(tǒng)微米CT

快速的無損亞微米級三維 X 射線顯微鏡

蔡司Xradia 600系列Versa突破基于投影的micro-CT和nano-CT系統(tǒng)的局限。傳統(tǒng)的CT系統(tǒng)依賴于單極幾何放大，而Xradia Versa則結合了獨特的兩級放大光學元件和高通量X射線源，能針對更廣泛的完整樣品尺寸和類型更快生產(chǎn)亞微米級分辨率圖像。大工作距離高分辨率（RaaD）架構支持對更大、密度更高的物體（包括完整的部件和設備）進行高分辨率三維成像。可選配的平板探測器（FPX）能夠?qū)崿F(xiàn)大體積樣品的快速掃描（重達25kg），為內(nèi)部感興趣區(qū)域的確認提供定位導航。蔡司Xradia Versa可實現(xiàn)500nm的真實空間分辨率以及最小40nm的體素。

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